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简单介绍:
ATX280涂层测厚仪|漆膜测厚仪是一种实用型便携式测量仪,能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量,既可用于实验室,也可用于工程现场,使用不同的测头,可满足多种测量的需要,ATX280涂层测厚仪广泛地应用在制造业、金属加工、化工、商检等领域,是材料保护专业必备的仪器。
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ATX280涂层测厚仪概述
   ATX280涂层测厚仪|漆膜测厚仪是一种实用型便携式测量仪,能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量,既可用于实验室,也可用于工程现场,使用不同的测头,可满足多种测量的需要,广泛地应用在制造业、金属加工、化工、商检等领域,是材料保护专业必备的仪器。
ATX280涂层测厚仪符合以下标准:
  • GB/T4956-1985 磁性方法
  • GB/T4957-1985 涡流方法
  • JB/T8393-1996 磁性和涡流覆层测厚仪
  • JJG889-95 《磁阻法测厚仪》
  • JJG818-93 《电涡流式测厚仪》 
ATX280涂层测厚仪功能特点
  • 采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量:
   1、磁性金属基体(如钢、铁、合金等)上非磁性覆层厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)
   2、非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层厚度(如:橡胶、油漆、阳极氧化膜等)
  • 可使用7种测头(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1)
  • 菜单显示
  • 具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
  • 具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(A-B)
  • 设有五个统计量:平均值、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差
  • 可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正
  • 具有存贮功能:可存贮495个测量值
  • 具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据
  • 可设置限界:对限界外的测量值能自动报警
  • 具有电源欠压指示功能
  • 操作过程有蜂鸣声提示
  • 具有错误提示功能,通过屏显或蜂鸣声进行错误提示
  • 设有两种关机方式:手动关机方式和自动关机方式
ATX280涂层测厚仪技术参数
  • 测头类型:可选,见涂层测厚仪探头参数表
  • 测量原理:磁感应和电涡流
  • 测量范围:0-1250um(F1) | 0-1250um(N1) 0-40um(铜上镀铬)
  • 低限分辨力:0.1um
  • 探头连接方式:分体
  • 示值误差:F | N
   1.一点校准(um):±[2%H+1]
   2.两点校准(um):±[(1%~2%)H+1]
  • 测量条件:F | N
   1.最小曲率半径(mm):凸1.5 | 凹9
   2.基体最小面积的直径(mm):ф7
   3.最小临界厚度(mm):0.5
   4.最小曲率半径(mm):凸3 | 凹10
   5.基体最小面积的直径(mm):ф5
   6.最小临界厚度(mm):0.3
  • 温湿度:0~40℃ | 20%RH~90%RH
  • 统计功能:平均值、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差
  • 工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
  • 测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
  • 上下限设置:有
  • 存储能力:500个测量值
  • 关机方式:手动和自动
  • 电  源:两节1.5v电池
  • 外形尺寸:50×120×25mm
  • 重   量:350g
ATX280涂层测厚仪基本配置
  • ATX280涂镀层测厚仪主机
  • F测头或N测头
  • 标准片一套
  • 铁基体或铝基体
  • 电池
  • 使用说明书

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