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ARX110H表面粗糙度仪

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产品名称: ARX110H表面粗糙度仪
产品型号:
产品展商: 北京时代光南检测
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简单介绍

ARX110H表面粗糙度仪集当今微处理器技术和传感技术于一体,以先进的微处理器和优选的高度集成化的电路设计,构成适应当今仪器发展趋势的超小型的体系结构,完成粗糙度参数的采集、处理和显示工作。ARX110H表面粗糙度仪广泛适用于加工业、制造业、检测、商检等部门,尤其适用于大型工件及生产流水线的现场检验,以及检测、计量、商检等部门的外出检定。

ARX110H表面粗糙度仪的详细介绍


ARX110H表面粗糙度仪概述

  ARX110H表面粗糙度仪集当今微处理器技术和传感技术于一体,以先进的微处理器和优选的高度集成化的电路设计,构成适应当今仪器发展趋势的超小型的体系结构,完成粗糙度参数的采集、处理和显示工作。广泛适用于加工业、制造业、检测、商检等部门,尤其适用于大型工件及生产流水线的现场检验,以及检测、计量、商检等部门的外出检定。

  • ARX110H表面粗糙度仪产品特点
  • 可选择4种测量参数Ra、Rz、Rt、Rq;
  • 采用双屏设计,便于在测量时从顶部视窗读数;
  • 具有校准功能,操作简单;
  • 采用ARM处理器进行数据处理和计算,速度快,功耗低,精度高;
  • OLED液晶显示,高亮度,无视角,宽温度,适合各种场合;
  • 手机同步操控功能,避免按键压力对测量的影响,也适用于狭小空间操作。
  • 两种充电方式,专用充电器或计算机USB口充电,可边充电边工作,方便快捷;
  • 传感器测头具有保护门,有效的保护了传感器测头,保证了测量的精度;
ARX110H表面粗糙度仪应用范围
  ARX110H表面粗糙度仪广泛应用于机械加工、航空航天、汽车零配件、通讯、电力、电子等行业,也适用于高校、科研院所、技术监督局、特检院等
ARX110H表面粗糙度仪技术参数
  • 测量参数:Ra、Rz、Rq、Rt
  • 测量范围(μm):Ra、 Rq: 0.05 ~ 10.0;Rz、 Rt: 0.1 ~ 50
  • 取样长度(mm):0.25 , 0.80 , 2.5
  • 行程长度(mm):6
  • 示值分辨率:0.01μm
  • 示值误差:±10%
  • 示值变动性:<12%
  • 针尖圆弧半径:10 μm±1 μm
  • 传感器导头压力:≤ 0.5N
  • 电   池:3.7V锂离子电池
  • 外形尺寸:110 mm×81mm×32 mm
  • 重   量:150g
ARX110H表面粗糙度仪标准配置
  • ARX110H表面粗糙度仪主机 1 
  • 标准样板 1
  • 电源适配器1 
  • USB线 1
  • 说明书保修卡合格证随机文件 1 


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