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产品详情
简单介绍：
德国EPK(Elektrophysik)公司涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀层测厚仪特点：MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机，各自具有不同的数据处理功能；所有型号均可配所有探头；可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机；涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100 可使用一片或二片标准箔校准。
详情介绍：
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涂层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100 |
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德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀层测厚仪特点： MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机，各自具有不同的数据处理功能； 所有型号均可配所有探头； 可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机； 可使用一片或二片标准箔校准。 |
MiniTest涂层测厚仪功能
| 型号 |
1100
|
2100
|
3100
|
4100
|
| MINITEST 存储的数据量 | ||||
| 应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数) |
1
|
1
|
10
|
99
|
| 每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计，并可设宽容度极限值) |
-
|
1
|
10
|
99
|
| 可用各自的日期和时间标识特性的组数 |
-
|
1
|
500
|
500
|
| 数据总量 |
1
|
10000
|
10000
|
10000
|
| MINITEST统计计算功能 | ||||
| 读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar |
-
|
√
|
√
|
√
|
| 读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 组统计值六种x,s,n,max,min,kvar |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 存储显示每一个应用行下的所有组内数据 |
-
|
-
|
-
|
√
|
| 分组打印以上显示和存储的数据和统计值 |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 显示并打印测量值、打印的日期和时间 |
-
|
√
|
√
|
√
|
| 其他功能 | ||||
| 设置极限值 |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别最大最小值 |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 连续测量模式中测量稳定后显示读数 |
-
|
-
|
√
|
√
|
| 连续测量模式中显示最小值 |
-
|
-
|
√
|
√
|
MiniTest涂层测厚仪可选探头参数
所有探头都可配合任一主机使用。在选择*适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能
|
探头
|
量程
|
低端
分辨率 |
误差
|
最小曲率
半径(凸/凹) |
最小测量
区域直径 |
最小基
体厚度 |
探头尺寸
|
|
|
磁
感 应 法 |
F05
|
0-500μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.7μm)
|
1/5mm
|
3mm
|
0.2mm
|
φ15x62mm
|
|
F1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
|
|
F1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/6mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ8x8x170mm
|
|
|
F3
|
0-3000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
|
|
|
F10
|
0-10mm
|
5μm
|
±(1%±10μm)
|
5/16mm
|
20mm
|
1mm
|
φ25x46mm
|
|
|
F20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±10μm)
|
10/30mm
|
40mm
|
2mm
|
φ40x66mm
|
|
|
F50
|
0-50mm
|
10μm
|
±(3%±50μm)
|
50/200mm
|
300mm
|
2mm
|
φ45x70mm
|
|
|
两
用 |
FN1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F0.5mm
N50μm |
φ15x62mm
|
|
FN1.6P
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面
|
30mm
|
F0.5mm
N50μm |
φ21x89mm
|
|
|
FN2
|
0-2000μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
5mm
|
F0.5mm
N50μm |
φ15x62mm
|
|
|
电
涡 流 法 |
N02
|
0-200μm
|
0.1μm
|
±(1%±0.5μm)
|
1/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ16x70mm
|
|
N.08Cr
|
0-80μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
2.5mm
|
2mm
|
100μm
|
φ15x62mm
|
|
|
N1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
1.5/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ15x62mm
|
|
|
N1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%±1μm)
|
平面/10mm
|
5mm
|
50μm
|
φ13x13x170mm
|
|
|
N10
|
0-10mm
|
10μm
|
±(1%±25μm)
|
25/100mm
|
50mm
|
50μm
|
φ60x50mm
|
|
|
N20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%±50μm)
|
25/100mm
|
70mm
|
50μm
|
φ65x75mm
|
|
|
N100
|
0-100mm
|
100μm
|
±(1%±0.3mm)
|
100mm/平面
|
200mm
|
50μm
|
φ126x155mm
|
|
|
CN02
|
10-200μm
|
0.2μm
|
±(1%±1μm)
|
平面
|
7mm
|
无限制
|
φ17x80mm
|
|
| 注： |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头，用于管内测量。 N.08Cr适合铜上铬，FN2也适合铜上铬。 CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。 |
MiniTest涂层测厚仪探头图示
|
FN1.6 0～1600μm,φ5mm 两用测头，可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的绝缘覆层 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
|
FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 两用测头， 特别适合测粉末状的覆层厚度 |
|
F05 0～500μm,φ3mm 磁性测头，适于测量细小钢铁物体的薄覆层，如金属镀层，氧化层等 量程低端分辨宰很高(0.1μm) |
|
F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性测头 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
|
F3 0～3000μm,φ5mm 磁性测头 可用于较厚的覆层 |
|
F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性测头 尤其适合于在管内壁测量 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
|
F10 0～10mm,φ20mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等 |
|
F20 0～20mm,φ40mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层，如玻璃、塑胶、混凝土等 |
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F50 0～50mm,φ300mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层 |
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N02 0～200μm,φ2mm 非磁性测头，尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的绝缘覆层 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
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N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 适用于测量铜、铝、黄铜上的极薄镀铬层 |
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N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性测头，适于测量有色金属基体上的较薄的绝缘覆层 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
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N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性测头，适于测量较薄的绝缘覆层 尤其适合在管内壁测量 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
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N10 0～10mm,φ50mm 非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等 |
|
N20 0～20mm,φ70mm 非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等 |
|
N100 0～100mm,200mm 非磁性测头，适于测量较厚的绝缘覆层，如橡胶玻璃等 |
|
CN02 10～200μm,φ7mm 用于测量绝缘材料上的有色金属覆层，如覆铜板 |
