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| 文件名称： | AT220涂层测厚仪使用说明书 |
| 公司名称： | 北京时代光南检测技术有限公司 |
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AT220涂层测厚仪在开发过程中，采用了方便易用的界面元素，增强了数据统计功能，删减了附加功能。数据存储采用回环覆盖方式，避免了新用户使用时出现存储器满的异常； 经过优化电路设计，涂层测厚仪系列的测量稳定性有了很大提高。 AT220涂层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；采用了 分体（传感器与仪器之间通过引线链接）、两用（F型或N型）探头； 设有五个统计量：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值(MIN)、测试次数（NO.）、标准偏差（S.DEV）； 具有存贮功能：可存贮500个测量值。 |
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